Le 31/05/2022
Le mardi 10 mai 2022 s'est tenue à Saint-Fons une Journée Technique dédiée à la Caractérisation des matériaux et des produits. Une cinquantaine de participants réunis pour échanger autour de différentes techniques anlaytiques et leurs éventuels couplages : microscopies, RMN, technologies RX, spectrométrie de masse.
1. Microscopie électronique au Centre Technologique des Microstructures : prestations proposées et exemples d’applications aux polymères, batteries et émulsions, Xavier Jaurand Centre Technologique des Microstructures, UCBLyon1
2. Microscopie électronique in situ operando et corrélative pour l’étude de la matière : naissance, vie et transformation des nanomatériaux, Ovidiu Ersen, Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
3. Utilisation des microscopies MEB-EDS et FTIR pour l’étude de matériaux industriels, Vincent Gardel, SERMA – Science et Surface
4. Microscopie élémentaire par laser pour la caractérisation chimique de surface des matériaux industriels, Florian Trichard, Ablatom
5. Présentation du dispositif « France Relance - préservation de l’emploi R&D » Flavie Barthès Prévot, CNRS
6. Le CCRMN : de la routine aux techniques avancées, Anne Baudouin, Centre commun de RMN, UCBLyon1
7. Le CRMN : RMN à haute résolution et sensibilité avec les champs magnétiques très élevés, Guido Pintacuda, Centre de RMN à Très Hauts Champs de Lyon
8. Diffusion des rayons X aux petits angles aux laboratoires : applications possibles en industrie, Benjamin Abécassis, Laboratoire de Chimie, ENS Lyon
9. ESRF - The European Synchrotron, Athanasios Papazoglou, ESRF
10 Les avantages de la microtomographie à rayons X synchrotron pour la caractérisation 3D des matériaux, Olivier Guiraud, Novitom
11. Caractérisation d'échantillons «poly»disperses par spectrométrie de masse sur la plateforme ILMTech, Clothilde Zerbino Institut Lumière Matière, iLMTech
12. Spectrométrie de masse ultra-haute résolution et couplages multidimensionnels pour la déformulation des échantillons les plus complexes, Alexandra Berlioz-Barbier, IFPEN
13. UHPLC/Triple Quadrupole: un outil indispensable pour l’analyse de trace, Frederic Le-Guyader, Solvay
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